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[화인스텍] Emberion VS20 Compact 카메라로 보는 SWIR 비전 솔루션

2025-04-18

Emberion VS20 Compact 카메라로 보는 SWIR 비전 솔루션

Emberion의 VS20 Compact SWIR 카메라는 400nm~2000nm의 광대역 스펙트럼을 감지할 수 있는 고성능 SWIR 카메라입니다.
특히 CQD 기반 고감도 센서와 고속 이미지 처리 기술을 통해 가시광선으로는 확인할 수 없는 물질의 특성, 내부 구조, 결함까지 선명하게 시각화 할 수 있습니다.

검사 효율과 품질을 한번에 높이는 SWIR 비전 솔루션 !
Emberion의 VS20, 고성능 SWIR 카메라에 대해 화인스텍 블로그를 통해 알아보세요 !

 

화인스텍_임베리온_Emberion_swir_투과검사_vs20

SWIR(Short-Wave Infrared, 단파장 적외선) 기술은 900nm~1700nm의 파장 영역을 감지하여 가시광선으로는 확인하기 어려운 물질의 특성이나 내부 상태를 비접촉 방식으로 확인할 수 있는 기술입니다. 물질은 각각 고유의 파장 특성을 가지고 있어, 파장대별로 달라지는 반사, 투과, 흡수 특성을 통해 다양한 정보를 얻을 수 있습니다. 특히, SWIR 카메라는 이러한 파장 특성을 활용하여 일반적인 카메라로는 볼 수 없는 영역의 정보를 시각화하고 소재의 차이, 내부 이상 유무, 수분 함유량, 이물 등을 확인하는 데 활용됩니다. Emberion VS20 Compact 카메라는 400nm(가시광)부터 2,000nm(SWIR)까지 감지 가능한 넓은 스펙트럼 범위와 고감도 CQD 센서를 갖춘 카메라로 정밀한 이미징 기술로 다양한 산업 분야에서 비가시광 영역의 특성 분석과 고속 검사를 가능하게 합니다.  CQD(Colloidal Quantum Dot)기술?: 머리카락 굵기의 수천 분의 1 크기인 아주 작은 반도체 입자(양자점, Quantum Dot)를 액체 상태로 만든 것 (빛을 받으면 전기를 만들거나, 빛을 방출하는 특성이 있어 센서에 활용하여 빛을 민감하게 감지하게 함) SWIR(Short-Wave Infrared, 단파장 적외선) 기술: 가시광선으로는 볼 수 없는 900nm에서 1,700nm 사이의 파장을 감지해 물질의 특성을 정확하게 식별할 수 있는 기술 Emberion VS20 Compact 카메라는 넓은 감지 범위, 고감도 센서, 고속 처리 성능뿐 아니라 장시간 사용해도 신호 대 잡음비(SNR)를 안정적으로 유지할 수 있어 복잡한 온도 제어 시스템 없이도 실온에서 안정적인 성능을 발휘합니다. 기존 SWIR 카메라 대비 더 넓고 민감하게 SWIR 이미지를 구현할 수 있습니다. 1. 400nm~2000nm의 넓은 스펙트럼 감지 범위 Emberion VS20 Compact 카메라는 가시광선(400700nm)부터SWIR(9002000nm)까지 하나의 카메라로 커버할 수 있습니다. 2. CQD 기반 고감도 센서 Emberion VS20 Compact 카메라는 CQD 기술을 기반으로 한 센서를 탑재해 기존 InGaAs 카메라 대비 우수한 감도와 저렴한 비용을 동시에 제공합니다. 3. 고속 이미지 처리 (400fps, GigE 인터페이스) Emberion VS20 Compact 카메라는 GigE 인터페이스를 통해 최대 400fps의 고속 촬영이 가능해 빠르게 이동하는 검사 대상에도 안정적인 검사 속도를 제공합니다. 4. 가볍고 컴팩트한 설계 Emberion VS20 Compact 카메라는 좁은 검사기 내부나 이동형 검사 장비에도 쉽게 설치할 수 있는 컴팩트한 크기와 경량 설계로 공간 제약이 많은 검사 환경에서도 최적화된 세팅이 가능합니다. Emberion VS20 Compact 카메라가시광선으로는 식별하기 어려운 영역의 정보를 SWIR 이미지를 통해 시각화하여, 재료의 특성 분석, 결함 검출, 내부 구조 확인 등 정밀한 비파괴 검사가 가능합니다. 이로 인해 반도체, 태양광, 식품, 바이오, 재료 분류 등 정밀하고 빠른 검사가 필요한 어플리케이션에 최적화된 솔루션으로 활용되고 있습니다. Emberion VS20 Compact 카메라는 특성상 가시광이나 NIR(근적외선) 카메라로 불가능했던 정밀 검사 및 분석에 주로 활용됩니다. 반도체 웨이퍼 검사 웨이퍼 내부의 마이크로 크랙, 이물, 구조적 결함을 SWIR 이미지를 통해 비파괴 방식으로 확인할 수 있어, 공정 중 수율을 높이는 데 필수적입니다. 태양광 패널 검사 태양광 셀 내부의 셀 크랙, 접합부 이상, 불량 등을 SWIR 카메라로 실시간 확인해 불량률을 최소화할 수 있습니다. 식품 검사과일, 농산물, 육류의 수분 함유량, 이물, 부패 상태를 비접촉 방식으로 감지할 수 있어 고품질 식품 출하에 활용됩니다. 재활용 및 자원 분류육안으로 구분이 어려운 플라스틱, 고무, 유리, 금속을 SWIR 파장 특성에 따라 재질별로 자동 분류하는 시스템에 사용되어, 정확한 소재 분리와 재활용 효율성을 높입니다. 의료/바이오 분석 조직, 혈관, 세포의 수분 분포, 조직 밀도 차이, 내부 구조를 비침습적으로 분석 가능해, 조직 검사, 피부 질환 진단, 약물 투과 실험 등 다양한 분야에서 활용됩니다. 이처럼 Emberion VS20 Compact 카메라는 다양한 파장의 빛을 정밀하게 감지할 수 있어 정밀 분석과 고속 검사가 요구되는 산업 현장에 최적화된 솔루션입니다. 넓은 감지 범위, 고감도 CQD 센서, 안정적인 SNR, 고속 처리 성능, 그리고 컴팩트한 설계까지 다양한 환경에서도 안정적이고 신뢰성 높은 SWIR 이미지를 제공합니다. 특히, 가시광으로 확인할 수 없는 물질의 특성, 결함, 구조를 단일 카메라로 선명하게 확인할 수 있어 검사 효율은 물론 설비 비용과 작업 공정을 최적화하는 데 탁월한 효과를 발휘합니다.

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